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  • 快速退火炉

    最后更新:2019-07-18点击数:79

    厂    商中国 合肥科晶
    型    号OTF-1200X
    技术指标工作温度:950℃   l 最高温度:1000℃   l 推荐最快升温速率:60℃/sec   l 恒温区长度:100mm   l 控温方式:PC机可编程控制   l 恒温精度:±5℃   
    应用领域
    责任工程师
  • 管式退火炉

    最后更新:2016-05-23点击数:77

    厂    商中国 合肥科晶
    型    号OTF-1200X
    技术指标工艺气体:N 2 ,O 2  l 最高温度:1 200℃  l 恒温区长度:300mm  l 控温方式:PC机可编程控制   l 恒温精度:±5℃     
    应用领域硅及化合物半导体材料离子注入后的缺陷消除/激活杂质,硅化物形成 l 欧姆/肖特基接触的制备以及快速氧化/氮化 l 消除薄膜应力,提高薄膜附着性等方面
    责任工程师
  • 砂轮划片机

    最后更新:2016-05-23点击数:78

    厂    商中国 沈阳和研
    型    号DS616
    技术指标C控制自动图像对准操作模式  l 加工尺寸:≤160mm×160mm或φ6″ 、切槽深度:≤4mm l 对准系统:70× 同 轴+环形照明  l 速度设定范围:0.1~400mm/s  l 工作台行程:240mm×170mm×30mm,转动:360°任意 
    应用领域可精密切割材料包括硅片、砷化镓、铌酸锂、氧化铝、陶瓷、玻璃、石英、蓝宝石等
    责任工程师
  • 显影机

    最后更新:2016-05-23点击数:338

    厂    商德国 Karl Süss
    型    号Delta 80RC
    技术指标
    应用领域</p> </div> </div> <div class="form-group"> <p class="col-sm-2 control-label">责任工程师
    责任工程师陈莉
  • 反应溅射系统

    最后更新:2016-05-23点击数:179

    厂    商中国 苏州圆芯
    型    号定制
    技术指标衬底尺寸:最大3英寸,向下兼容靶位:3个2英寸(2个射频源;1个直流源)衬底温度:室温至800℃工艺气体:Ar、N2、O2,由MFC控制 
    应用领域用于各种薄膜材料的溅射沉积
    责任工程师黄春玉
  • 等离子去胶机

    最后更新:2016-05-11点击数:5511

    厂    商德国PVA TePla
    型    号IoN Wave 10
    技术指标石英腔室:直径248mm,深245mm,体积11.3L配备O2和Ar两种工艺气体,MFC控制极限真空0.07mbar,工作压力0.5-1.5mbar2.45GHz微波电源,输出功率0~600w可调控制器选项:基于Windows操作系统的触摸屏界面提供全自动的控制多工步菜单,实时图形显示,多级别密码进入,数据记录以及所有等离子体参数的实时SPC(统计过程控制)监控自动工艺菜单或手动等离子体处理 
    应用领域光刻或刻蚀工艺后去除光刻胶,或半导体生产中用于晶圆的清洁和等离子体预处理
    责任工程师方芬珍
  • 探针台

    最后更新:2016-04-13点击数:5501

    厂    商美国 Lake Shore
    型    号CRX-4K
    技术指标真空度:1×10-5Torr  l 温度范围:4.2 K~350 K  l 探针臂数:6个,四个直流探针臂,两个射频探针臂  l 最大样品尺寸:2英寸   测试I/V、C/V、RF
    应用领域
    责任工程师
  • 台阶仪

    最后更新:2016-04-13点击数:5745

    厂    商美国 VEECO
    型    号DEKTAK 150
    技术指标扫描长度:55mm  l 垂直测量范围:524μm(标准),最大可达1mm  l 台阶高度重现性6Å, 1σ在1μm台阶上  l 垂直分辨率:1Å(6.55μm范围)  l 探针压力:1~15mg,最小可达1mg  l 探针曲率半径:0.2~25μm  l 全自动样品台:最大4英寸样品,向下兼容;软件控制样品位置,精确定位    
    应用领域主要用于膜厚测量、应力分析和表面形貌分析
    责任工程师
  • 膜厚仪

    最后更新:2016-04-13点击数:5405

    厂    商日本 DNS
    型    号VM-1220
    技术指标 测量范围:1nm~20μm  l 重复性:3μm以下偏差小于0.1nm,3μm以上优于0.03%  l 样品可动范围:200mm  l 光斑:4μm  l 可同时测4层薄膜的厚度    
    应用领域主要用于膜厚测量
    责任工程师
  • 显微镜

    最后更新:2016-04-13点击数:73

    厂    商德国 Zeiss
    型    号Imager. M1m
    技术指标ICCS物镜:5 ×、10 ×、20 ×、50 ×、100 × l 目镜:10 × l 物镜转盘:研究级7孔明暗场自动物镜转盘  l 观察功能:反射光、偏光 l 光源:12V100W卤素灯,智能化光路管理器,光强色温自动可调  l 光学附件:目镜测微尺,台尺,各种滤色片 l Z轴聚焦:自动聚焦  l 数字化平台:配计算机和图像分析软件,实...
    应用领域固体样品表面形貌的表征和测量
    责任工程师
  • 锲焊机

    最后更新:2016-04-13点击数:5661

    厂    商美国 West Bond
    型    号7476D
    技术指标纵向分辨率: 0.5625 inch  l 压力范围: 10 to 150 grams  l 超声功率: 4 W  l WIRE RANGE: 0.7 to 2.0 mils, 1x10 mil gold ribbon l WIRE SPOOL MOUNT: 0.5 inch with ball bearing rollers 
    应用领域显微镜辅助下超细电线(金线、铝线)的焊接
    责任工程师
  • 紫外光刻机

    最后更新:2016-04-13点击数:6649

    厂    商德 国 Karl Süss
    型    号MJB 4
    技术指标汞灯光源:350W,350nm~450nm掩模板尺寸:5英寸×5英寸,向下兼容晶片尺寸:最大4英寸,向下兼容接触方式:真空、低真空接触, 硬接触,软接触和接近式对准方式:全手动正面对准,红外光及CCD反面对准最小线宽:0.8μm对准精度:±0.5μm
    应用领域利用紫外光源,制作微米尺度的图形
    责任工程师陈莉
  • 无掩膜紫外光刻机

    最后更新:2016-04-13点击数:6918

    厂    商美国 Intelligent Micro Patterning, LLC
    型    号SF 100
    技术指标汞灯光源:365nm,434nm镜头:3个(4倍、10倍、20倍)曝光精度:4倍镜头—5μm,10倍镜头—2μm,20倍镜头—1μm曝光方法:非接触式,区域曝光单个曝光区域最大:4倍:1.28×0.96 mm2;10倍:0.512×0.384 mm2;20倍:0.256×0.192 mm2 对准方式:可手动、自动对准图形尺寸:最大4英寸接收图形格式:JPEG、Bitmap、DXF(R12)和DWG(R14、LT98/97)特点:无需掩膜版,可通过画图、CAD等软件画出所需曝光图形
    应用领域利用紫外光源,制作微米尺度的图形
    责任工程师陈莉
  • 电子束光刻机

    最后更新:2016-04-13点击数:235

    厂    商德国 FEI-Raith
    型    号F50
    技术指标加速电压5KV-30KV束流:5-600pA (根据不同的光阑需要)推荐硅片尺寸小于20mm×20mm极限曝光尺寸10nm,最小稳定可重复尺寸50nm最小套刻精度200nm 
    应用领域利用电子束光源,制作纳米、微米尺度的图形
    责任工程师邱凯
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